2021年第82回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.7 化合物及びパワーデバイス・プロセス技術・評価

[11a-N305-1~11] 13.7 化合物及びパワーデバイス・プロセス技術・評価

2021年9月11日(土) 09:00 〜 12:00 N305 (口頭)

加藤 正史(名工大)

10:00 〜 10:15

[11a-N305-5] 常圧1400℃アニール処理したMg/Nイオン注入GaN結晶のアクセプタ活性化率の評価

大森 雅登1、渡邉 健太2、宮崎 泰成1、白石 舞翔1、和田 竜垂1、大川 峰司2 (1.大分大、2.ミライズテクノロジーズ)

キーワード:窒化ガリウム、Mgイオン注入

イオン注入技術はGaNパワーデバイス実現のため必須の要素技術である。本研究ではMg/Nイオンを共注入しAlN保護膜を製膜したGaNを常圧下にて1400℃でアニールし,MgがGaサイトに入りアクセプタとなる割合(アクセプタ活性化率)を評価したので報告する。