10:00 〜 10:15
[11a-N305-5] 常圧1400℃アニール処理したMg/Nイオン注入GaN結晶のアクセプタ活性化率の評価
キーワード:窒化ガリウム、Mgイオン注入
イオン注入技術はGaNパワーデバイス実現のため必須の要素技術である。本研究ではMg/Nイオンを共注入しAlN保護膜を製膜したGaNを常圧下にて1400℃でアニールし,MgがGaサイトに入りアクセプタとなる割合(アクセプタ活性化率)を評価したので報告する。
一般セッション(口頭講演)
13 半導体 » 13.7 化合物及びパワーデバイス・プロセス技術・評価
2021年9月11日(土) 09:00 〜 12:00 N305 (口頭)
加藤 正史(名工大)
10:00 〜 10:15
キーワード:窒化ガリウム、Mgイオン注入