[23p-B200-1~5] 計測インフォマティクスの革新と応用

[23p-B200-5] 先端半導体産業からの計測インフォマティクスの価値と期待

〇岡本 和也¹ (1.山口大院技術経営)

キーワード：半導体、計測、技術経営

エレクトロニクス産業の市場創成経緯はS字成長曲線から変容し、主軸となる半導体は計測技術の価値の創造と獲得の視座から重要性が再認識される。多角的な計測情報に対し、異なる技術の複合化とAIデータ駆動解析によるマルチモーダル等の計測インフォマティクスは、閉鎖的な計測産業を打破しえる。さらに、前工程と後工程の融合最適化と複雑な微細化が共存する先端半導体に向けてR&Dから量産までの広範囲な活用が庶幾される。