シンポジウム(口頭講演)

[23a-B200-1~3] 計測インフォマティクスの革新と応用

2022年9月23日(金) 10:00 〜 11:50 B200 (B200)

小嗣真人(東理大)

△：奨励賞エントリー
▲：英語発表
▼：奨励賞エントリーかつ英語発表
空欄：どちらもなし

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10:00 〜 10:05

[23a-B200-1] オープニング：計測インフォマティクスの革新と応用

〇小嗣真人¹、沓掛健太朗²、冨谷茂隆³、知京豊裕⁴ (1.東理大先進工、2.理化学研究所、3.ソニー、4.物質材料研究機構)

10:05 〜 11:05

[23a-B200-2] 計測インフォマティクスの発展と展開－情報計測から革新的計測解析へ－

〇鷲尾隆¹ (1.阪大産研)

11:05 〜 11:50

[23a-B200-3] イジングマシンを用いた材料設計

〇津田宏治^1,2,3 (1.東大新領域、2.理研AIP、3.物材機構)

シンポジウム(口頭講演)

[23p-B200-1~5] 計測インフォマティクスの革新と応用

2022年9月23日(金) 13:00 〜 17:00 B200 (B200)

知京豊裕(物材機構)、冨谷茂隆(ソニー)

△：奨励賞エントリー
▲：英語発表
▼：奨励賞エントリーかつ英語発表
空欄：どちらもなし

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13:00 〜 13:45

[23p-B200-1] 量子ビーム計測のための計測インフォマティクス

〇小野寛太¹ (1.阪大院工)

13:45 〜 14:30

▲ [23p-B200-2] Investigation of magnetic properties using an explainable machine learning outputted energy landscape model

〇Alexandre Lira Foggiatto¹、 Sotaro Kunii¹、 Mayuko Okada¹、 Ken Masuzawa¹、 Chiharu Mitsumata^1,2、 Masato Kotsugi¹ (1.Tokyo Univ. of Sci.、2.NIMS)

14:30 〜 15:15

[23p-B200-3] 薄膜科学へのインフォマティクス活用～成膜から分光分析まで～

〇永村直佳^1,2,3 (1.物材機構、2.JSTさきがけ、3.東京理科大)

15:30 〜 16:15

[23p-B200-4] データ洪水時代を迎える放射光科学とSPring-8の取り組み

〇初井宇記¹ (1.理研RSC)

16:15 〜 17:00

[23p-B200-5] 先端半導体産業からの計測インフォマティクスの価値と期待

〇岡本和也¹ (1.山口大院技術経営)

セッション一覧

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[23a-B200-1] オープニング：計測インフォマティクスの革新と応用

[23a-B200-2] 計測インフォマティクスの発展と展開－情報計測から革新的計測解析へ－

[23a-B200-3] イジングマシンを用いた材料設計

[23p-B200-1~5] 計測インフォマティクスの革新と応用

[23p-B200-1] 量子ビーム計測のための計測インフォマティクス

▲ [23p-B200-2] Investigation of magnetic properties using an explainable machine learning outputted energy landscape model

[23p-B200-3] 薄膜科学へのインフォマティクス活用～成膜から分光分析まで～

[23p-B200-4] データ洪水時代を迎える放射光科学とSPring-8の取り組み

[23p-B200-5] 先端半導体産業からの計測インフォマティクスの価値と期待

認証

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[23a-B200-1~3] 計測インフォマティクスの革新と応用

[23a-B200-1] オープニング：計測インフォマティクスの革新と応用

[23a-B200-2] 計測インフォマティクスの発展と展開 －情報計測から革新的計測解析へ－

[23a-B200-3] イジングマシンを用いた材料設計

[23p-B200-1~5] 計測インフォマティクスの革新と応用

[23p-B200-1] 量子ビーム計測のための計測インフォマティクス

▲ [23p-B200-2] Investigation of magnetic properties using an explainable machine learning outputted energy landscape model

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[23p-B200-4] データ洪水時代を迎える放射光科学とSPring-8の取り組み

[23p-B200-5] 先端半導体産業からの計測インフォマティクスの価値と期待

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