2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.5 デバイス/集積化技術

[18p-G203-1~18] 13.5 デバイス/集積化技術

2018年3月18日(日) 13:15 〜 18:00 G203 (63-203)

齋藤 真澄(東芝)、宮地 幸祐(信州大)

17:15 〜 17:30

[18p-G203-16] 深層学習を用いた画像認識システム向け3D-TLC NAND型フラッシュメモリ搭載Value-Aware SSD

出口 慶明1、中村 俊貴1、竹内 健1 (1.中大理工)

キーワード:TLC NAND型フラッシュメモリ、ディープラーニング、信頼性

近年、低電力や高速化のために、精度を落として動作させるApproximate Computingが広く研究されている。本講演では、TLC NAND型フラッシュメモリに対するApproximate Computingとして、Value-Aware SSDを提案する。Value-Aware SSDでは、TLC NAND型フラッシュメモリの非対称的なエラーが生じることを利用する2つの手法を利用する。これにより、顔認識システムの高信頼化を実現でき、許容可能ビットエラー率を27倍に向上することができた。