[2I05-10] イオンビーム応用

[2I10] イオンビーム照射した炭素担体上の白金ナノ粒子

(2)X線吸収微細構造測定による局所構造分析

*垣谷 健太^2,1、八巻 徹也²、木全 哲也³、山本 春也²、松村 大樹⁴、下山 巖⁴、田口 富嗣²、寺井 隆幸¹ (1. 東大、2. 量研機構、3. 東工大、4. 原子力機構)

キーワード：イオンビーム、照射欠陥、白金ナノ粒子、XAFS

イオンビーム照射により予め欠陥を導入した炭素担体上に作製した白金ナノ粒子触媒は、高い酸素還元反応（ORR）活性と耐久性を示す。本研究では、このような高性能の起源である特異なPt/C界面構造を明らかにするため、X線吸収微細構造（XAFS）測定による局所構造分析を行った。