2018 Annual Meeting

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Oral presentation

II. Radiation, Accelerator and Beam Technologies » 202-2 Radiation Physics, Radiation Detection and Measurement

[3H01-05] Analyzing Technique

Wed. Mar 28, 2018 9:30 AM - 10:50 AM Room H (U2-213 -U2 Building)

Chair: Masashi Takada (National Defense Academy of Japan)

10:30 AM - 10:45 AM

[3H05] Resonant laser secondary neutral mass spectrometry for micro imaging of radioactive isotopes (2)

*Hideki Tomita1, Kosuke Saito1, Volker Sonnenschein1, Tetsuo Iguchi1, Masato Morita2, Tetsuo Sakamoto2, Keita Kanerari2, Toshihide Kawai3, Ikuo Wakaida4, Yukihiko Satou4 (1. Nagoya Univ., 2. Kogakuin Univ., 3. Japan Neutron Optics Inc., 4. Japan Atomic Energy Agency)

Keywords:Radioactive isotope analysis, Imaging, Resonance ionization, Mass spectrometry, Focused ion beam

放射性核種の付着した微粒子の生成過程・環境中での振る舞いを解明するために、集束イオンビームによる分析試料の微小領域スパッタリングとレーザー共鳴イオン化による元素選択的イオン化を組み合わせた、レーザー共鳴イオン化-二次中性粒子質量分析による単一微粒子中の放射性同位体イメージング法の開発を進めている。2色スキームを用いた安定Zr同位体イメージングを実証した。また、放射性Cs分析などを念頭に、高繰り返し率Ti:Sapphireレーザーによる2色共鳴イオン化スキームの検討を行った。