[2F01-04] 核データ測定2

[2F02] 180MeV/u ¹²Cビーム入射荷電粒子生成二重微分断面積の測定

*山田 瑞貴¹、山口 雄司²、佐波 俊哉⁴、松藤 成弘³、魚住 裕介¹ (1. 九大、2. 原研、3. 量研、4. 高エネ研)

キーワード：二重微分断面積、放射線医学総合研究所、重粒子線がん治療

未測定領域であった 180MeV/u C粒子入射生成二重微分断面積の測定をおこなった。測定には、表面障壁型シリコン半導体検出器,GSO(Ce) シンチレータ,PWO シンチレータ,CsI(Tl)シンチレータを用いた。p,d,t, ³He,α,⁶Li,⁷Li,⁷B,⁹B粒子をΔE-E 法によって識別して結果を得た。