[2F01-04] 核データ測定2

[2F03] 半導体デバイスにおける宇宙線ミュオン起因ソフトエラー発生率評価に向けたミュオン原子核捕獲反応測定計画

(1)概要

*川瀬 頌一郎¹、福田 宏哉¹、渡辺 幸信¹、新倉 潤²、橋本 昌宜³ (1. 九大、2. 東大、3. 京大)

キーワード：ミュオン原子核捕獲反応、ソフトエラー

ソフトエラーとは、半導体デバイスに放射線が入射すること等によって発生する一時的な誤作動のことである。近年では半導体デバイスの微細化が進み、それに伴って宇宙線ミュオン起因ソフトエラーのリスク増大の可能性が指摘されている。特に、負ミュオン原子核捕獲反応によって放出される荷電粒子がソフトエラーの発生に寄与することがわかっているが、ケイ素原子に対する負ミュオン原子核捕獲反応から放出される荷電粒子エネルギースペクトルの実験データが不足しているのが現状である。そこで、我々はケイ素原子における負ミュオン原子核捕獲反応から放出される荷電粒子エネルギースペクトルの測定を計画している。本講演では、研究計画の概要について発表を行う。