[1N01-04] ビーム利用

[1N01] Ge標的へのMeV陽子線照射で発生した準単色X線を用いた文化財試料中のCuの低線量XRF分析

*小栗 慶之¹、長谷川 純¹、福田 一志¹、羽倉 尚人² (1. 東工大、2. 東京都市大学)

キーワード：陽子線励起X線、XRF分析、文化財試料、吸収線量、放射線損傷

MeV陽子線を単体標的に照射して発生した準単色の特性X線を試料に照射し，XRF（X線蛍光）分析を行う手法の可能性について実験的に調べた．単体標的の元素の種類を最適化して一次X線のエネルギーを測定対象の元素のX線吸収端よりわずかに高く設定することにより，測定の感度を増加させるとともに，試料に与える線量を低減できる可能性がある．文化財に含まれるCu（K吸収端エネルギー8.98 keV）を低線量で定量することを想定し，銅化合物を含む模擬文化財試料を作製し，Ge単体標的に2.5-MeV陽子線を照射して発生したGe-KX線（9.87 keV）を一次X線として，そのXRF分析を行った．Cuの検出下限と試料が受ける線量について議論する．