[1N05-09] ビーム利用・ターゲット1

[1N08] 核破砕中性子源水銀標的の耐久性向上に向けた研究開発

(4)水銀標的の余寿命を評価するための照射損傷評価に関する研究開発

*涌井 隆¹、斎藤 滋¹、若井 栄一¹、酒井 知紀²、森 孝太郎²、二川 正敏¹ (1. JAEA、2. 茨城大)

キーワード：水銀標的、照射損傷、押込み試験、引張特性、余寿命評価、逆解析

J-PARCにおける核破砕水銀標的の寿命を決定する支配因子の1つは、陽子及び中性子による照射損傷である。著者らは、これまで、非照射材に対して、微小押込み試験から引張特性を評価する逆解析手法を提案してきた。本研究では、核破砕条件による照射損傷を模擬したイオン照射材に本評価手法を適用し、その評価結果と米国SNSの水銀標的の照射後試験結果の比較により、本手法の妥当性について検討する。この検討結果を踏まえ、使用済み容器から採取した試料に対して押込み試験を行うことにより、硬度や本評価手法から得られる引張特性から、照射損傷に重畳する様々な影響（繰返し応力による疲労温度及び水銀による変質など）も考慮した余寿命評価が行えることが期待される。本報では、評価手法やその妥当性について議論する。