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[2I05] スペクトロメーターを用いた熱ルミネッセンス測定系の開発
キーワード:熱ルミネッセンス、線量測定、スペクトロメーター
放射線によってトラップ準位に捕獲された電子を加熱することによって発生する熱ルミネッセンスは,放射線の吸収量と熱ルミネッセンスの発光強度が比例することから,積算放射線量の検出器として利用されてきた。しかし,熱ルミネッセンスの総量を光電子増倍管で測定するという現在の測定手法では,熱ルミネッセンスの発光機構を詳細に検討することは困難であった。本研究では,CCDスペクトロメーターと試料加熱装置を組み合わせることにより,試料昇温時の熱ルミネッセンススペクトルを連続的に測定できるシステムを開発した。この装置を用いることで,昇温途中の熱ルミネッセンススペクトルの変化を観察でき,複数のトラップ準位を含む系での熱ルミネッセンスの発光機構を解析することが可能になると考えられる。