[2M06-09] 新検出器・解析法開発

[2M06] nTD-Si検出器を用いた波形解析法による軽荷電粒子弁別能評価

*川瀬 頌一郎¹、福田 宏哉¹、大石 将也¹、川田 哲平¹、渡辺 幸信¹、西畑 洸希¹、郷 慎太郎^1,2、新倉 潤^3,2、鈴木 大介²、松崎 禎市郎² (1. 九大、2. 理研、3. 東大)

キーワード：粒子識別、nTD-Si検出器、波形解析法

九州大学加速器・ビーム応用科学センターのタンデム加速器施設においてnTD-Si検出器を用いた波形解析法による軽荷電粒子の弁別性能評価実験を行った。nTD-Si検出器に入射する軽荷電粒子の位置および入射角度を変えた測定を行い、それらが波形解析法による粒子弁別能に与える影響を評価した。本講演では、性能評価実験の詳細および解析結果について報告する。