[K301-1vn] 18. 高分子

[K301-1vn-05] ナノ細孔に包接した高分子のAFMフォースカーブ測定による一本鎖構造解析

^○河野 悠生¹、細野 暢彦¹、植村 卓史¹ (1. 東大院工)

［言語］日本語

キーワード：多孔性金属錯体、原子間力顕微鏡、単一分子力分光法、フォースカーブ、シーケンシング