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検査技術・バウンダリスキャン技術

2020年3月4日(水) 09:45 〜 10:45 C会場 (A棟A105)

座長:亀山修一

10:00 〜 10:15

[4C1-02] メモリベース論理再構成デバイス(MRLD)における劣化状態検知のためのリングオシレータ実装

〇周細紅¹、王森レイ¹、樋上喜信¹、高橋寛¹ (1. 愛媛大学　大学院理工学研究科)

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