HF5000、NX5000、HD2700、SEM/FIB/AFM相関解析（SAEMic）
日立ハイテクがご提供する高機能FIB-SEM複合装置Ethos NX5000,　走査透過電子顕微鏡HD2700、 SEMおよびAFMによる金属組織微細構造、金属腐食相関解析事例をご紹介いたします。