[G] Strongly Correlated Electronic Materials

[225] Effects of Accidental Crack Size and Voltage Probe Distance on Critical Current, n-value and their Correlation in Coated Superconducting Tape

*OCHIAI Shojiro¹, OKUDA Hiroshi² (1. Kyoto University, ESISM, 2. Kyoto University,　Graduate　School of Engineering)

Keywords:偶発クラック、不均一クラッキング、臨界電流、n値、電圧端子間距離

一個の偶発クラックと多数の小クラックが存在するモデル超伝導テープを用いたシミュレーション法により、臨界電流、n値および両者の相関に及ぼす偶発クラックサイズと電圧端子間距離の影響を調査した。