[G] 半導体・誘電体材料

[239] 金属元素(Mg,Cu)添加α-Fe₂O₃のテラヘルツ帯屈折率測定

*荒木 航¹、田邉 匡生²、阿部 世嗣³、小山 裕² (1. 東北大工(院生)、2. 東北大工、3. 電磁研)

キーワード：鉄酸化物、半導体、テラヘルツ波

テラヘルツ波は電波と光波の両方の性質を有し、非破壊検査への応用が期待されている。本研究では、金属元素(Mg,Cu)を添加したα-Fe₂O₃のテラヘルツ帯における屈折率を測定し、構造の変化を評価した。