[P125] エピタキシャルCr(N,O)薄膜に内在する積層不整の定量評価
キーワード:Hard coating、Pulsed Laser Deposition、Chromium nitride、Epitaxial growth、Stacking faults
Cr(N,O)薄膜は積層不整を内在することにより高硬度化を実現した。積層不整の度合いを評価するため、酸素含有量が様々なエピタキシャルCr(N,O)薄膜のD51相をX線回折により評価した。
抄録パスワード認証
抄録の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。