17:35 〜 18:00
[S2.11] イオン研磨によるβ-Ga2O3の研磨損傷層除去の試みとその評価
キーワード:FZ法、β-Ga2O3、加工損傷層、EBSD、FIB/STE、イオン研磨、EFG法
FZ法により作製されたβ-Ga2O3基板の研磨時に導入される加工損傷を、イオン研磨により除去する事を試みた結果とその評価を発表する。
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