11:55 〜 12:10
[S6.26] 電子線照射W-X合金(X = Mo, Ta, Re)中の照射欠陥形成に対する添加元素効果
キーワード:タングステン、照射欠陥、陽電子消滅
タングステン合金を電子線照射し、形成した照射欠陥を陽電子消滅法で調べた。
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公募シンポジウム講演
2020年3月19日(木) 09:00 〜 12:25 Q会場 (西9号館3階W935)
座長:笠田 竜太(東北大学)、橋本 直幸(北海道大学)、藤井 克彦(株式会社原子力安全システム研究所)
11:55 〜 12:10
キーワード:タングステン、照射欠陥、陽電子消滅
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