4：X線・電子分光分析

[H1103] 蛍光X線・自発特性X線ハイブリッド計測に基づくSr共存下でのU, Np, Puの分析

○吉井 裕^1,2、王 慧¹、柳澤 右京^1,2、松山 嗣史^3,1、酒井 康弘^2,1 (1. 国立研究開発法人　量子科学技術研究開発機構、2. 東邦大学、3. 岐阜大学)

キーワード：蛍光X線分析、自発特性X線、アクチニド、キレートディスク