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03：一般講演（ポスター発表）

一般ポスター／テクノレビューポスター

Sun. Jun 1, 2025 10:20 AM - 11:45 AM P (学生会館)

10:20 AM - 11:45 AM

[P2012] 市販GC-MS装置のための分子イオン計測用アタッチメントの新展開：GC-IA(TOF)イオン源

○三島有二¹、斎藤元明¹、藤井麻樹子²、津越敬寿³ (1. (株)神戸工業試験場、2. 横国大院環境情報、3. 産総研)

Keywords:イオン付着イオン化法、フラグメントレスイオン化法、網羅的検出法、質量分析

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