[17a-B3-1~11] 15.6 IV族系化合物

[17a-B3-7] SiO₂/SiC MOS構造における伝導帯端近傍の界面特性

^○田岡紀之，坂下満男，中塚理，財満鎭明 (名大院工)

キーワード：SiC,interface trap