13:30 〜 15:30
[17p-P8-7] 走査型電子顕微鏡を用いた貫通刃状転位起因の4H-SiC(0001)表面ステップテラス構造の観察
キーワード：SiC,dislocation,SEM
講演情報
一般セッション(ポスター講演)
15．結晶工学 » 15.5 IV族結晶.IV-IV族混晶
[17p-P8-1~7] 15.5 IV族結晶.IV-IV族混晶
2013年9月17日(火) 13:30 〜 15:30 P8 (デイヴィス記念館 )
一般セッション(ポスター講演)
15．結晶工学 » 15.5 IV族結晶.IV-IV族混晶
2013年9月17日(火) 13:30 〜 15:30 P8 (デイヴィス記念館 )
13:30 〜 15:30
キーワード：SiC,dislocation,SEM