14:15 〜 14:30
▲ [20p-C8-5] Observation of Individual Dopants in the Electrical Characteristics of Nanoscale pn Junctions
キーワード:individual dopant,nano pn junction,RTS
一般セッション(口頭講演)
13.半導体A(シリコン) » 13.6 Siデバイス/集積化技術
2013年9月20日(金) 13:15 〜 14:30 C8 (TC3 2F-201)
14:15 〜 14:30
キーワード:individual dopant,nano pn junction,RTS