[28a-G22-1~13] 15.6 IV族系化合物

[28a-G22-12] SiC-MOSFETのV_TH instability評価 (12:00 PM ～ 12:15 AM)

^○先崎純寿^1,2，下里淳²，児島一聡^1,2，原田信介^1,2，有吉恵子¹，小島貴仁¹，田中保宣^1,2，奥村元^1,2 (ＦＵＰＥＴ¹，産総研²)

キーワード：パワーデバイス、信頼性