2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

08.プラズマエレクトロニクス » 8.2 プラズマ診断・計測

[29a-B8-1~10] 8.2 プラズマ診断・計測

2013年3月29日(金) 09:00 〜 11:45 B8 (K2号館 4F-1406)

[29a-B8-8] 微粒子プラズマにおけるダブルプローブを用いたイオン密度と電子温度の測定 (11:00 AM ~ 11:15 AM)

高橋和生 (京都工繊大)

キーワード:微粒子プラズマ、dusty plasma、プローブ計測