14:00 〜 14:15
▲ [17p-A13-2] Tomographic Micro-Imaging of Buried Layers and Interfaces with 15W X-ray Power Source
キーワード:X-ray reflection, Tomography, Buried layers and interface, Imaging
シンポジウム(口頭講演)
分科企画シンポジウム » X線反射率,表面X線散乱による埋もれた界面の解析における位相問題 - 新光源への期待
2014年9月17日(水) 13:45 〜 16:30 A13 (E304)
14:00 〜 14:15
キーワード:X-ray reflection, Tomography, Buried layers and interface, Imaging