[18a-A16-1~11] 13.4 デバイス／集積化技術

[18a-A16-7] 微細バルクトランジスタの線形領域と飽和領域におけるランダムテレグラフノイズ(RTN) の統計分布解析

^○川上誠純，水谷朋子，更屋拓哉，小林正治，平本俊郎 (東大生研)

キーワード：RTN,MOSFET,ばらつき