[18p-PA7-1~16] 6.3 酸化物エレクトロニクス

[18p-PA7-7] p-Cu₂O/SiO_x/n-SiC pnダイオード構造抵抗変化型メモリの低温形成技術

^○山下敦史，塚本貴広，須田良幸 (東京農工大院工)

キーワード：抵抗変化メモリ,クロスポイント型配列