2014年第75回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13.半導体A(シリコン) » 13.1 基礎物性・表面界面現象・シミュレーション

[19p-A15-1~12] 13.1 基礎物性・表面界面現象・シミュレーション

2014年9月19日(金) 13:30 〜 16:45 A15 (E306)

16:15 〜 16:30

[19p-A15-11] 高熱伝導率 BOX SOI FinFET のアナログおよび I/O 動作特性評価

高橋綱己1,2,内田建1,2 (慶應大理工電子工1,CREST, JST2)

キーワード:FinFET,自己加熱効果