4:30 PM - 4:45 PM
[19p-A15-12] Soft-error simulation with a model for radiation-induced increase in local temperature
Keywords:ソフトエラー,放射線,シングルイベント効果
Oral presentation
13. Semiconductors A (Silicon) » 13.1 Basic Properties, Surface and Interface Phenomena, and Simulation
Fri. Sep 19, 2014 1:30 PM - 4:45 PM A15 (E306)
4:30 PM - 4:45 PM
Keywords:ソフトエラー,放射線,シングルイベント効果