2014年第61回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

03.光 » 3.4 計測光学

[17p-E4-1~17] 3.4 計測光学

2014年3月17日(月) 13:15 〜 17:45 E4 (E104)

17:00 〜 17:15

[17p-E4-15] テラヘルツ時間領域分光装置を用いた膜厚測定

赤木基信,北岸恵子 (大塚電子)

キーワード:膜厚測定,不透明,テラヘルツ