[18p-D6-1~19] 6.2 カーボン系薄膜

△ [18p-D6-12] ケルビンプローブ顕微鏡を用いた高濃度n型ダイヤモンドの表面電位の評価

^○白田和也^1,2,3，竹内大輔^2,3，小倉政彦^2,3，加藤宙光^2,3，牧野俊晴^2,3，大串秀世^2,3，山崎聡^1,2,3 (筑波大¹，産総研²，CREST³)

キーワード：ダイヤモンド,ケルビンプローブ顕微鏡,表面準位