18:15 〜 18:30
▲ [19p-F6-16] Activation energy measurement of chlorine neutral beam etching of GaAs
キーワード:GaAs,neutral beam
一般セッション(口頭講演)
08.プラズマエレクトロニクス » 8.4 プラズマエッチング
2014年3月19日(水) 14:00 〜 19:00 F6 (F306)
18:15 〜 18:30
キーワード:GaAs,neutral beam