[20a-D3-1~11] 14.1 探索的材料物性

[20a-D3-4] KFM 法によるB 添加p 型BaSi₂ エピタキシャル薄膜表面のポテンシャル分布

^○馬場正和¹，塚原大地¹，WeijieDu¹，都甲薫¹，渡辺健太郎¹，原康介²，宇佐美徳隆^2,3，末益崇^1,3 (筑波大院 数理¹，名大²，JST-CREST³)

キーワード：KFM,シリサイド