[14a-2H-1~11] 6.3 Oxide electronics

[14a-2H-11] Redox reaction induced by field effect in SrFeO_x thin films

〇Akihiro Abe¹, Hatano Takafumi¹, Suvankar Chakraverty², Ikuta Hiroshi¹, Iwasa Yoshihiro^2,3, Tokura Yoshinori^2,3 (1.Nagoya Univ., 2.RIKEN, 3.Tokyo Univ.)

Keywords:field effect,strongly correlated system,iron oxides

近年、電気二重層トランジスタ(EDLT)によって、物質の電子相制御の研究が多くなされるようになった。ところが、状況によっては電気化学反応による酸素欠損が生じるという主張もされている。ここで、トランジスタ内部で生じる反応を制御することができれば、電界効果による新しい機能制御の手法となる可能性がある。本講演では鉄酸化物EDLTにおいて、酸素欠損とは逆過程の、物質への酸素導入の可能性を議論する。