The 76th JSAP Autumn Meeting, 2015

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Oral presentation

Joint Session K » 21.1 Joint Session K

[15p-1B-1~18] 21.1 Joint Session K

Tue. Sep 15, 2015 1:15 PM - 6:00 PM 1B (133+134)

座長:浦岡 行治(奈良先端大),神谷 利夫(東工大)

1:45 PM - 2:00 PM

[15p-1B-3] Fabrication of Sn-doped β-Ga2O3 (/overline{2}01) single crystal Schottky barrier diodes

〇(M1)Yuta Koga1, Kazuya Harada1, Kenji Hanada1, Toshiyuki Oishi1, Makoto Kasu1 (1.Saga Univ.)

Keywords:gallium oxide,Schottky barrier diode

酸化ガリウム(Ga2O3)は約4.8 eVの広いバンドギャップを有する半導体で、
次世代のパワーデバイス半導体として期待されている。
今回我々はNiを用いたSnドープ酸化ガリウムの
ショットキーバリアダイオードを作製したので報告する。
電流電圧特性の結果において、順方向では1.5 Vで83.1 A/cm2の電流密度が得られた。
逆方向では4 Vで約1 A/cm2ほど電流が流れていた。