[12a-P13-1~11] 13.5 デバイス／集積化技術

[12a-P13-10] リソグラフィにより形成されたシリコン2重結合量子ドット内の電子スピン状態のパルス測定

〇堀部 浩介¹、小寺 哲夫^{2, 3}、小田 俊理^{1, 2} (1.東工大量子ナノ研セ, 2.東工大電子物理, 3.東大ナノ量子機構)

キーワード：シリコン、量子ドット、スピン