12:00 〜 12:15 [15a-B1-12] 自立GaN基板上p-n接合ダイオードの信頼性試験 〇堀切 文正1、太田 博2、成田 好伸1、吉田 丈洋1、北村 寿朗1、中村 徹2、三島 友義2 (1.サイオクス、2.法政大)