The 77th JSAP Autumn Meeting, 2016

Presentation information

Oral presentation

6 Thin Films and Surfaces » 6.3 Oxide electronics

[14p-A31-1~16] 6.3 Oxide electronics

Wed. Sep 14, 2016 1:30 PM - 5:45 PM A31 (302A)

Kouhei Yoshimatsu(Titech), Yuji Muraoka(Okayama Univ.)

2:15 PM - 2:30 PM

[14p-A31-4] Tailoring the crystal structure of TiO2 films deposited by reactive sputtering (1);
Selective rutile growth by controlling the sputtering parameters or Sn-doping

〇(M1)Haruka Yamamoto1, Junjun Jia1, Haruka Kotake1, Shin-ichi Nakamura1, Toshihiro Okajima2, Masaaki Imura3, Toshimasa Kanai3, Yozo Shigesato1 (1.Aoyama Gakuin Univ., 2.Kyushu Synchrotron Light Research Center, 3.Nippon Electric Glass Co., Ltd)

Keywords:TiO2, Crystal growth

酸化チタン(TiO2)は、結晶構造によって異なる性質をもち、用途に合わせて結晶構造を作り分けることが必要となる。本研究では、反応性スパッタ法において成膜パラメータの調整と、不純物(Sn)ドーピングの2つの方法を用いてTiO2薄膜のルチル相の選択成長を行った。作製したTiO2薄膜の結晶構造をX線回折法(XRD)、透過型電子顕微鏡(TEM)、X線吸収微細構造解析(XAFS)等で解析し、その結晶成長メカニズムを検討した。