09:30 〜 09:45
[15a-C32-3] 多波長走査型en-face干渉顕微鏡による生体内部の形状計測
キーワード:断層測定
生体内部のナノ振動を細胞レベルで計測可能な多波長干渉法による Multifrequency swept en-face OCT(MS en-face OCT)生体内部のナノ振動を細胞レベルで計測可能な多波長干渉法による Multifrequency swept en-face OCT(MS en-face OCT)の開発と生体試料の計測
一般セッション(口頭講演)
3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器
09:30 〜 09:45
キーワード:断層測定