2016年 第77回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

15 結晶工学 » 15.8 結晶評価,不純物・結晶欠陥

[15p-A23-1~20] 15.8 結晶評価,不純物・結晶欠陥

2016年9月15日(木) 13:15 〜 18:45 A23 (201B)

前田 貴弘(グローバルウェーハズ・ジャパン)、小島 拓人(明治大)、大野 裕(東北大)

16:15 〜 16:30

[15p-A23-12] シリコン結晶中の炭素濃度測定の感度と規格適用濃度と検出下限

井上 直久2,1 (1.東京農工大、2.大阪府大)

キーワード:シリコン結晶、炭素不純物濃度測定、赤外吸収

不純物濃度測定の課題は常に感度と精度である。赤外吸収は主にバルク単結晶の、SIMSはエピタキシャル薄膜の、放射化分析は原料多結晶の、それぞれ代表的な方法として使われている。技術開発における感度、測定法規格における推奨適用濃度範囲、検出下限について動向を検討する。