The 77th JSAP Autumn Meeting, 2016

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.4 Si wafer processing /Si based thin film /MEMS/Integration technology

[15p-B10-1~17] 13.4 Si wafer processing /Si based thin film /MEMS/Integration technology

Thu. Sep 15, 2016 1:45 PM - 6:30 PM B10 (Exhibition Hall)

Minoru Sasaki(Toyota Tech. Inst.)

3:00 PM - 3:15 PM

[15p-B10-5] Three-dimensional object identification by polarimetric infrared imaging

Takafumi Kuboyama1, Shinpei Ogawa2, Daisuke Fujisawa2, Masafumi Kimata1 (1.Ritsumeikan Univ., 2.Mitsubishi Electric Corp.)

Keywords:infrared sensors, plasmon, polarimetric infrared imaging

我々は、プラズモニクス・メタマテリアルを応用して、偏光を識別可能な非冷却赤外線センサの開発に取り組んできた。 赤外線センサは、熱分布によって物体を撮像する。よって、均一な温度分布を有する多面体の面を識別することは困難である。今回、非冷却赤外線カメラを用いた偏光イメージングにより、立体形状の識別を行ったので報告する。