[15p-P3-1~32] 6.3 酸化物エレクトロニクス

[15p-P3-16] 抵抗変化型メモリにおける信頼性の拡散イオン種及びメモリ層材料依存性

〇田中 新也¹、木下 健太郎^1,2、岸田 悟^1,2 (1.鳥取大工、2.TiFREC)

キーワード：CBRAM and ReRAM、Retention