17:30 〜 17:45 △ [20p-S423-15] ラマン分光法及びイメージング法による低温多結晶シリコン薄膜の結晶性分布評価 〇横川 凌1、高橋 和也2、小森 克彦2、廣田 良浩3、澤本 直美1、小椋 厚志1 (1.明治大理工、2.東京エレクトロン東北㈱、3.東京エレクトロン㈱)