2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

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[19p-W621-1~12] 8.4 プラズマエッチング

2016年3月19日(土) 14:30 〜 17:45 W621 (西6号館)

林 久貴(東芝)、江利口 浩二(京大)

15:00 〜 15:15

[19p-W621-3] フーリエ変換赤外吸収分光法を用いたプラズマエッチングにおける基板表面温度測定

〇(D)中崎 暢也1、福島 大介1、宮田 浩貴1、津田 博隆1、鷹尾 祥典1、江利口 浩二1、斧 高一1 (1.京大院工)

キーワード:プラズマエッチング、基板表面温度測定、フーリエ変換赤外吸収分光法