The 63rd JSAP Spring Meeting, 2016

Presentation information

Oral presentation

7 Beam Technology and Nanofabrication » 7.5 Ion beams

[20p-H137-1~15] 7.5 Ion beams

Sun. Mar 20, 2016 1:15 PM - 5:15 PM H137 (H)

Masaki Tanemura(Nagoya Inst. of Tech.), Noriaki Toyoda(Univ. of Hyogo)

4:15 PM - 4:30 PM

[20p-H137-12] Surface modification of PEEK by gas cluster ion beam irradiation

Yuuki Uozumi1, Noriaki Toyoda1, Isao Yamada1 (1.Univ of Hyogo)

Keywords:GCIB,PEEK,contact angle

医療用材料等に期待されるPEEKに対し、低エネルギーかつ高効率に表面改質可能なAr-GCIBを照射し、表面のXPS測定、接触角、接着力等から表面改質効果について評価した。Ar-GCIBの加速電圧の増加に伴い、PEEK表面の親水性が向上し、同時にせん断接着力が向上した。