2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

13 半導体 » 13.8 化合物及びパワー電子デバイス・プロセス技術

[20p-P9-1~22] 13.8 化合物及びパワー電子デバイス・プロセス技術

2016年3月20日(日) 13:30 〜 15:30 P9 (屋内運動場)

13:30 〜 15:30

[20p-P9-15] SLS回数と成長温度の最適化によるInSb-HEMT構造の電気的特性向上

〇(M2)加藤 三四郎1、宮下 愛理、藤川 紗千恵、藤代 博記 (1.東京理科大学大学院)

キーワード:InSb、SLS、HEMT

InSbはIII-V族化合物半導体の中で最も有効質量が小さいため、高い電子移動度と飽和電子速度を有する。そこで、InSbをチャネル材料に用いた高電子移動度トランジスタ(High Electron Mobility Transistor:HEMT)は高周波・低消費電力デバイスとして期待されている。基板に用いている半絶縁性GaAs基板とInSbは14.6%の大きな格子定数のため、貫通転位等の欠陥が問題となる。本研究はInSb HEMT構造の電気的特性向上を目的にバッファ層にSLS導入と成長温度の最適化を行ったので報告する。