The 63rd JSAP Spring Meeting, 2016

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.8 Compound and power electron devices and process technology

[21a-W541-1~12] 13.8 Compound and power electron devices and process technology

Mon. Mar 21, 2016 9:00 AM - 12:15 PM W541 (W5)

Tetsuya Suemitsu(Tohoku Univ.)

12:00 PM - 12:15 PM

[21a-W541-12] Photocurrent by Sub-Bandgap Wavelength Light Absorption due to Franz-Keldysh Effect in n-type GaN Schottky Barrier Diode under Large Reverse Bias

〇(B)Takuya Maeda1, Masaya Okada2, Masaki Ueno2, Yoshiyuki Yamamoto2, Masahiro Horita3, Jun Suda3 (1.Kyoto Univ., 2.Sumitomo Electric Industries,Ltd., 3.Dept. of Electron. Sci&Eng.,Kyoto Univ.)

Keywords:gallium nitride,Schottky Barrier Diode,Photocurrent

前回、我々は、n-GaN ショットキーバリアダイオード(SBD)の光電流のメカニズムについて、照射光の光子エネルギーがバンドギャップより小さいが障壁高さより大きい場合、照射光がGaNを透過し、裏面で反射されてショットキー界面に到達し、内部光電子放出(Internal Photoemission, IPE)によって光電流が生じること、また、光電流の波長依存性をFowlerプロットすると直線となり、障壁高さを精度よく求められることを報告した。今回、逆バイアス電圧を増加させていくと、ある電圧から光電流が急増することを見いだし、これをFranz-Keldysh (F-K)効果に起因したサブバンドギャップ光吸収で半定量的に説明できることが分かったので報告する。